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外延·掺杂
工艺介绍
外延一般是在单晶衬底上淀积一层薄的单晶层,新淀积的这层称为外延层。掺杂工艺是向本征半导体材料中引入特定杂质原子,从而改变目标的物理、化学或电学特性。通过精确控制掺杂的种类、浓度和分布,可将半导体转变为 N 型(电子为多数载流子)或 P 型(空穴为多数载流子),进而构建各种半导体器件。
185 0512 2288
工艺能力
离子注入:
B,P,F,Al,N,Ar,H,He,Si 等
高温氧化:
1150℃
高温扩散/退火:
900℃-1100℃
快速退火:
150℃-1100℃
注入角度:
±11°
晶圆尺寸:
最大6寸
配套设备:
快速退火炉,高温氧化扩散炉,高温退火炉
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