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SEM扫描电子显微镜
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SEM扫描电子显微镜
SEM扫描电子显微镜介绍


主要靠加在阴极表面的电场发射电子,阴极为晶体钨。具有亮度高、分辨率高、寿命长、能实现快速扫描观察和记录等优点,分辨率已达到3nm甚至更高,还可在低加速电压下进行高分辨率观察,能直接观察绝缘。

工艺能力:

•  电子枪:场发射电子源

•  加速电压:0.5 至2 kV

•  束流:0.2至 1 nA

•  分辨率:<10 nm (@1kV)

•  放大倍数:250 至130,000x  (2048×2048pixels)

•  样品尺寸:最大 100×60 mm

•  样品高度:最大 30 mm



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